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UltraINSP 晶圆表面缺陷检测系统
                
UltraFilm薄膜测量系统
                
FR-Ultra NIR N3 晶圆厚度测量系统
                
QuickOCT-4D--膜厚轮廓仪
                
QuickPRO-RPS--旋转剖面仪
                
QuickPRO-3D--表面轮廓仪
                
QuickOCT-4D —膜厚轮廓仪
                
iFocus晶圆检测系统
                
EVG720自动化SmartNIL紫外纳米压印光刻系统
                
FR-Mic:全自动带显微镜多点测量膜厚仪
                
FR-pRo:Thetametrisis膜厚测量仪
                
FR-Scanner:自动化高速薄膜厚度测量仪
                
FR-InLine-在线薄膜厚度测量仪
                
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自动化高速薄膜厚度测量仪
                
FR-Ultra晶圆厚度测量系统
                
FR-ES精简薄膜厚度测量仪
                
EVG770 NTDymek岱美仪器分步重复纳米压印光刻机
                
EVG850 TB自动化临时键合系统